Katalog Moravskoslezské vědecké knihovny v Ostravě

Úplné zobrazení záznamu

Toto je statický export z katalogu ze dne 25.02.2020. Zobrazit aktuální podobu v katalogu.

Formát Kniha Hlavní záhlaví Tichopádek, Petr, 1974- Název Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení : zkrácená verze Ph.D. Thesis = Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus / Petr Tichopádek ; školitel Tomáš Šikola Nakl. údaje V Brně : Vysoké učení technické, Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, c2006 Popis (rozsah) 31 s. : il. EXEMPLÁŘE ISBN 80-214-3138-5 Edice PhD Thesis ; [vol.] 364 Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Další původce Šikola, Tomáš, 1957- Další korporace Vysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství Poznámka Anglické resumé Obsahuje nákresy a grafy Disertace (Ph. D.)--Vysoké učení technické v Brně, 2006 "Obor: Fyzikální a materiálové inženýrství" Bibliografie na s. 28-29 Předmět. heslo Elipsometry spektroskopické - konstrukce - disertace - teze Heslo MSVK elipsometrie konstrukce měření spektroskopické elipsometry tenké vrstvy Forma, žánr * disertace * teze Skupina Konspektu 543 - Analytická chemie MDT 53.08 543.4 Systém. číslo 000094840

© 2005-2020 Ex Libris, Moravskoslezská vědecká knihovna v Ostravě